- Anwenderorientierte Assistenzsysteme zum sicheren Einsatz optischer Abstandssensoren -
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Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg
Lehrstuhl Qualitätsmanagement und Fertigungsmesstechnik (QFM)
Prof. Dr.-Ing. Dr.-Ing. E.h. Dr. h.c. mult. A. Weckenmann

 

 

 

Neben der Erforschung rechnergestützter Methoden des Qualitätsmanagements werden am Lehrstuhl Qualitätsmanagement und Fertigungsmesstechnik der Universität Erlangen-Nürnberg wirtschaftliche Messstrategien und funktionsorientierte Auswerteverfahren für die Mikro- und Nanomesstechnik und taktile Koordinatenmesstechnik sowie neue werkstattgerechte Messverfahren der optischen Messtechnik für die Werkstückprüfung untersucht. Darüber hinaus liegt ein Schwerpunkt der Arbeit in der Erforschung, Entwicklung und Bereitstellung innovativer Qualifizierungskonzepte für den Bereich der Fertigungsmesstechnik und des Qualitätsmanagements, die auf virtuellen Lernsystemen basieren. Forschungsschwerpunkte sind dabei die Konzipierung von arbeitsplatzintegrierten Assistenzsystemen zur aufgabenbezogenen Wissensvermittlung und kontextsensitiven Unterstützung des Anwenders, die Entwicklung ganzheitlicher Lernkonzepte für die berufsbegleitende Weiterbildung und die Bereitstellung von interaktiven Lernmaterialien zum selbstgesteuerten aktiven Wissenserwerb. Die didaktisch aufbereiteten und wissenschaftlich abgesicherten eLearning-Angebote werden auf nationaler und internationaler Ebene für die Aus- und Weiterbildung sowohl von Studierenden als auch in der Industrie verwendet. Ein weiterer Schwerpunkt der Arbeit liegt in der Modellierung von Messprozessen für die rechnergestützte Ermittlung von Messunsicherheitsbudgets sowie in der Erforschung von Messmethoden für die Mikro- und Nanotechnologie. Das Messzentrum des Lehrstuhls QFM ist akkreditiertes Kalibrierlaboratorium für die Prüfgröße Länge: Koordinatenmesstechnik an prismatischen Werkstücken. Mitarbeiter des Lehrstuhls wirken mit in mehreren GMA-Arbeitskreisen; der Lehrstuhlinhaber ist Obmann des GMA-Fachgebietes 3.40 "Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik", Chairman des IMEKO TC14 "Measurement of geometrical quantities", Mitglied des Beirates DIN NATG Nor-menausschuss für technische Grundlagen und Fellow of CIRP: International Academy of Production Engineering. Der Lehrstuhl ist Mitglied im CC-UPOB (Nanotechnologie Kompe-tenzzentrum Ultrapräzise Oberflächenbearbeitung e.V.). Das DFG Schwerpunktprogramm 1159 „Neue Strategien der Mess- und Prüftechnik für die Produktion von Mikrosystemen und Nanostrukturen“ wird vom Lehrstuhlinhaber koordiniert.

Schwerpunkt: 
• Untersuchen der Auswirkungen aktiver und passiver Assistenz auf die Reproduzierbarkeit
• Entwickeln von Methoden zur arbeitsbegleitenden Qualifizierung
• Anwenderorientierte Ausgestaltung des Assistenzsystems

 

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